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| 原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM
 產(chǎn)品介紹
 
 ◆ 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響 ◆ 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能 ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強 ◆ 超高倍光學定位系統(tǒng),實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位 
 技術參數(shù)
 
 應用案例     
 GaN襯底/掃描范圍3µm×3µm 單晶硅金字塔/掃描范圍30µm×30µm 
      微米光柵/掃描范圍30µm×30µm MoTe/掃描范圍16µm×16µm 包裝清單
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